由種種原因引起的干擾將嚴(yán)重地影響局部放電試驗(yàn)。假使這些干擾是連續(xù)的而且其幅值是基本相同的（背景噪聲），它們將會(huì)降低局部放電測(cè)試儀的有效靈敏度，即Zui小可見(jiàn)放電量比所用試驗(yàn)線路的理論Zui小值要大。這種形式的干擾會(huì)隨電壓而增大，因而靈敏度是按比例下降的。
GDPD-414便攜式局部放電帶電巡檢儀
在其他的一些情況中，隨電壓的升高而在試驗(yàn)線路中出現(xiàn)的放電，可以認(rèn)為是發(fā)生在試驗(yàn)樣品的內(nèi)部。因此，重要的是將干擾降低到Zui小值，以及使用帶有放電實(shí)際波形顯示的局放儀，以Zui大的可能從試樣的干擾放電中鑒別出假的干擾放電響應(yīng)。
干擾的主要形式如下：
(1)來(lái)自電源的干擾；
(2)來(lái)自接地系統(tǒng)的干擾；
(3)從別的高壓試驗(yàn)或者電磁輻射檢測(cè)到的干擾；
(4)試驗(yàn)線路的放電；
(5)由于試驗(yàn)線路或樣品內(nèi)的接觸不良引起的接觸噪聲。
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